-
精密测量元件用纳米碳化硼
产品特性：本产品纯度高、粒径小、分布均匀，比表面积大、高表面活性，松装密度低，是一种人工合成的超硬质材料，硬度仅次于金刚
-
半导体材料用纳米碳化硼选优锆
产品特性：本产品纯度高、粒径小、分布均匀，比表面积大、高表面活性，松装密度低，是一种人工合成的超硬质材料，硬度仅次于金刚
-
金刚石磨料用优锆60纳米碳化硼
产品特性：本产品纯度高、粒径小、分布均匀，比表面积大、高表面活性，松装密度低，是一种人工合成的超硬质材料，硬度仅次于金刚
-
纤维制品成膜剂用纳米铝溶胶
本公司以高纯铝为原料，开发出了PH值为3-5、粒径在10-15纳米铝溶胶，带正电荷。型号UG14W液体状态半透明至白色乳液固含量%20PH值
-
相纸表面处理剂用优锆纳米铝溶胶
本公司以高纯铝为原料，开发出了PH值为3-5、粒径在10-15纳米铝溶胶，带正电荷。型号UG14W液体状态半透明至白色乳液固含量%20PH值
-
优锆UG-S20纳米二氧化锡透明导电材料用
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
-
气敏元件材料用纳米氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
-
透明导电材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
-
熔炼特种玻璃用纳米氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
-
光催化抗菌材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
